Espectrofotómetro de sobremesa CS‑820P D/8‑D/0 de doble trayectoria óptica para reflectancia y transmisión en control de calidad de laboratorio
Parte 1. Introducción
El CS‑820P es un espectrofotómetro inteligente, de manejo sencillo y alta precisión. Cuenta con pantalla táctil de 7 pulgadas, rango de longitud de onda completo y sistema operativo Android. Geometrías de iluminación: reflectancia D/8° y transmitancia D/0° (con UV incluido / UV excluido). Ofrece una alta precisión en la medición de color, gran capacidad de almacenamiento y software para ordenador. Gracias a estas ventajas, se utiliza en laboratorios para el análisis y la comunicación de datos de color.
Parte 2. Ventajas del instrumento
Adopta las geometrías de reflectancia D/8° y transmitancia D/0° para medir tanto materiales opacos como transparentes.
Tecnología de análisis espectral de doble trayecto óptico
Esta tecnología accede simultáneamente a los datos de medición y a los datos de referencia ambiental internos del instrumento, para garantizar la precisión y la estabilidad a largo plazo del equipo.
Compatible con medición SCI/SCE, admite medición SCI+SCE
El instrumento utiliza la geometría D/8°, muy recomendada por la CIE (Comisión Internacional de Iluminación), para satisfacer las mediciones de color de diferentes sectores. Admite los modos SCI (componente especular incluido) y SCE (componente especular excluido) para detectar mejor los cambios de color. Realiza la medición rápida SCI+SCE en menos de 4 segundos.
Pantalla táctil giratoria con sistema operativo Android
La posición y orientación de la pantalla se pueden ajustar según los métodos de ensayo del instrumento.
Zona de medición de transmitancia abierta, sin limitaciones de tamaño de muestra
Diversos accesorios para simplificar las mediciones
Incluye 15 tipos de accesorios estándar y 12 tipos de accesorios opcionales para medir diferentes tipos de materiales.
Cajón para accesorios, para guardar y proteger los accesorios
Aberturas de reflectancia intercambiables
Cuatro modos de ensayo UV para la medición de materiales fluorescentes
Parte 3. Más imágenes del instrumento
Parte 4. Introducción a la estructura del instrumento
Parte 5. Parámetros técnicos
| Sistema de iluminación / observación | Reflectancia: d/8 (iluminación difusa, observación a 8°) Medición simultánea SCI/SCE (Normas ISO7724/1, CIE No.15, ASTM E1164, ASTM‑D1003‑07, DIN5033 Teil7, JIS Z8722 Condición C) Transmitancia d/0 (iluminación difusa, observación a 0°) |
|---|---|
| Sensor | Matriz de fotodiodos de silicio |
| Método de rejilla | Rejilla cóncava |
| Diámetro de esfera integradora | 152 mm |
| Rango de longitud de onda | 360‑780 nm |
| Intervalo de longitud de onda | 10 nm |
| Resolución espectral | 5 nm |
| Rango de reflectancia Resolución | 0‑200 % 0,01 % |
| Fuente de luz | Lámpara de xenón de pulso + LED |
| Medición UV | Con UV incluido, corte 400 nm, corte 420 nm, corte 460 nm |
| Tiempo de medición | SCI/SCE ＜2 s SCI+SCE ＜4 s |
| Aberturas de medición | Reflectancia: XLAV Φ30 mm, LAV Φ18 mm, MAV Φ11 mm, SAV Φ6 mm Transmitancia: Φ25 mm (reconocimiento automático del tamaño de abertura) |
| Tamaño de muestra de transmitancia | Sin límite de anchura y altura, espesor ≤50 mm |
| Repetibilidad | Reflectancia / transmitancia espectral XLAV: desviación estándar ≤0,1 % Valor cromático XLAV: desviación estándar ΔE*ab ≤0,02 * Al medir la placa de calibración blanca 30 veces a intervalos de 5 s tras calibración blanca |
| Consistencia entre instrumentos | XLAV ΔE*ab ≤0,25 (Serie BCRA II, promedio de 12 placas, a 23 °C) |
| Fuentes de luz | A,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12 CWF,U30,DLF,NBF,TL83,TL84 |
| Idiomas | Inglés, Ruso, Español, Portugués, Japonés, Tailandés, Coreano, Alemán, Francés, Polaco, Chino simplificado y tradicional |
| Visualización | Gráfico / valor de reflectancia y transmitancia, valor de color, valores de diferencia de color, resultado aprobado/rechazado, simulación de color, evaluación de color, neblina, valores cromáticos de líquidos, tendencia de color |
| Observadores estándar | 2° y 10° |
| Espacios de color | Lab, LCh, Hunter Lab, Yxy, XYZ |
| Otros indicadores | WI(ASTM E313‑00,ASTM E313‑73,CIE,ISO2470/R457, AATCC, Hunter, Taube Berger, Stensby) YI(ASTM D1925,ASTM E313‑00,ASTM E313‑73), Tint(ASTM E313‑00), Índice de metamerismo Milm, solidez a la tinción, solidez del color, brillo ISO, R457, densidad A, densidad T, densidad E, densidad M, APHA/Pt‑Co/Hazen, Gardner, Saybolt, color ASTM, neblina, transmitancia total, opacidad, intensidad de color |
| Fórmulas de diferencia de color | ΔEab, ΔECH, ΔEuv, ΔEcmc, ΔE94, ΔE00, ΔE*ab(hunter), clasificación de matiz 555 |
| Almacenamiento | Memoria USB de 8 GB para almacenamiento y transferencia de datos |
| Tamaño de pantalla | Pantalla táctil de 7 pulgadas |
| Rastro de auditoría | Sí (según requisitos FDA y CFDA) |
| Alimentación | 12V/3A |
| Condiciones de funcionamiento | 5‑40 °C, humedad relativa 80 % (a 35 °C), sin condensación |
| Condiciones de almacenamiento | -20‑45 °C, humedad relativa 80 % (a 35 °C), sin condensación |
| Accesorios estándar | Adaptador de corriente, cable USB, soporte para transmitancia, memoria USB (software de PC), cavidad negra de calibración, placas de calibración blanca y verde, soporte de medición de reflectancia, aberturas de 30 mm,18 mm,11 mm y 6 mm, soporte de muestra de reflectancia, cubeta de vidrio 40×10 mm |
| Accesorios opcionales | Soporte calefactor para transmitancia, soporte vertical y pistón neumático para medición hacia abajo, soporte de reflectancia para muestras pequeñas, soporte de cubeta de vidrio de reflectancia, placa protectora resistente a la corrosión (no extraíble), soporte para fibras, soporte para láminas, soporte de transmitancia para abertura pequeña, maletín de transporte, enchufe estándar europeo, enchufe estándar estadounidense |
| Interfaces | USB, USB‑B y RS‑232 |
| Dimensiones del instrumento | 465×240×260 mm |
| Peso | 10,8 kg |
| Otras funciones | 1. Cámara para visualizar la zona de medición; 2. Admite medición horizontal, vertical y hacia abajo (requiere accesorios opcionales para medición hacia abajo); 3. Función de compensación automática de humedad y temperatura. |
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