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Espectrómetro OCT Serie CP800-840C para Investigación Científica, NDT Industrial y Uso Médico

Espectrómetro OCT Serie CP800-840C para Investigación Científica, NDT Industrial y Uso Médico

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La serie CP800-840C es un espectrómetro de alto rendimiento diseñado específicamente para sistemas SD-OCT de investigación e industriales. Esta serie emplea un diseño avanzado de rejilla VPH, combinado con un detector CMOS lineal de alta sensibilidad (2048 píxeles), lo que proporciona una excelente eficiencia óptica y una alta relación señal-ruido en la banda central de 840 nm.
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La serie CP800-840C es un espectrómetro de alto rendimiento diseñado a la medida para sistemas SD-OCT de nivel de investigación científica y de nivel industrial. Esta serie adopta un diseño avanzado de rejilla VPH, combinado con un detector CMOS de matriz de línea de alta sensibilidad (2048 píxeles), capaz de proporcionar una eficiencia óptica y una relación señal-ruido sobresalientes en la banda central de 840 nm.


El producto ofrece múltiples configuraciones de ancho de banda (desde 31 nm hasta 145 nm), lo que permite a los usuarios elegir de manera flexible entre "resolución axial ultraalta" y "gran profundidad de imagen". Soporta una velocidad máxima de escaneo de línea de hasta 250 kHz, siendo el componente central ideal para imágenes tridimensionales en tiempo real, inspección industrial de alta velocidad y diagnóstico médico clínico.


Aplicaciones Típicas

1.JPG

Imágenes biomédicas:

Diagnóstico oftalmológico: Escaneo de alta velocidad y alta definición de la retina y las estructuras del fondo de ojo.

Detección dermatológica: Cribado temprano del cáncer de piel, monitoreo de las glándulas sudoríparas y del flujo sanguíneo capilar.

Imágenes endoscópicas: Combinado con catéteres para realizar imágenes a nivel micrométrico de la pared cardiovascular o del tracto digestivo.


2.JPG

Inspección industrial no destructiva:

Semiconductores y pantallas: Inspección de empaque de chips, medición del espesor de estructuras multicapa en pantallas OLED.

Materiales compuestos: Detección de defectos internos y delaminación en polímeros, plásticos y productos de impresión 3D.

Soldadura por láser: Inspección de calidad en línea antes, durante y después de la soldadura.


3.JPG

Investigación científica: Análisis de chips microfluídicos, estudio de la absorción transdérmica de fármacos y caracterización de la morfología de materiales.

Diagrama del sistema de aplicación


Características Principales

Adquisición de datos a velocidad ultraalta: Soporta una velocidad máxima de escaneo de línea de 250 kHz, con interfaces duales opcionales Camera Link y USB 3.0 para satisfacer las necesidades de imágenes en tiempo real con alta tasa de fotogramas.


Diseño óptico sobresaliente: Adopta una rejilla VPH de alta eficiencia para garantizar una pérdida de luz extremadamente baja, mejorando significativamente la sensibilidad de detección y el rango dinámico del sistema OCT.


Combinaciones de rendimiento diversificadas:

Configuración de alta resolución: El ancho de banda de 145 nm puede proporcionar una resolución axial extremadamente alta (aproximadamente 2.14 μm, en el aire).


Configuración de gran profundidad: La resolución óptica ultraalta de 0.02 nm soporta una profundidad de imagen de hasta 11.7 mm.


Alto rango dinámico: Profundidad de bits ADC ajustable integrada de 10/11/12 bits, capturando de manera efectiva las señales débiles de reflexión de la muestra.


Estabilidad de nivel industrial: Adopta una estructura mecánica compacta y robusta, con interfaz de fibra óptica (FC/PC) plug-and-play, adaptándose a un entorno de trabajo de 0 °C a 50 °C.


OEM altamente personalizable: Las bandas espectrales y los parámetros ópticos se pueden personalizar de manera específica según los escenarios de aplicación particulares del cliente.


Parámetros de Rendimiento

ModeloCP800-840/145CCP800-840/80CCP800-840/43CCP800-840/31C
DetectorTipoCMOS de matriz de línea
Píxeles efectivos2048pixels
Tamaño del píxel10*200um
Área fotosensible20.48*0.2mm
Velocidad de escaneo de líneaOpcional 20 kHz, 80 kHz, 130 kHz, 250 kHz
ÓpticosRango de longitud de onda

780-925nm

(Diferentes rangos personalizables)

801-880nm

(Diferentes rangos personalizables)

818-861nm

(Diferentes rangos personalizables)

825-856nm

(Diferentes rangos personalizables)

Ancho de banda espectral145nm79nm43nm31nm
Resolución óptica0.1nm0.04nm0.03nm0.02nm

Resolución axial (en aire)*

~2.14µm~3.93µm~7.22µm~10.02µm
Profundidad de imagen*2.5mm4.5mm8.4mm11.7mm
Diseño ópticoRejilla VPH
Interfaz de luz incidenteInterfaz de fibra óptica FC/PC
Parámetros EléctricoInterfaz de salida de datosOpcional USB3.0 (Máx. 130 kHz) y Camera Link (Máx. 250 kHz)
Profundidad de bits ADC10/11/12bit
Fuente de alimentación

DC 5V (Interfaz USB3.0)

DC 10V a 15V (Interfaz Camera Link)

Corriente de trabajo<600mA
Temperatura de trabajo0°C~50°C
Temperatura de almacenamiento-20°C~60°C
Humedad de trabajo<90% RH (Sin condensación)

Parámetros Físicos

Dimensiones (mm)218*115*75.6229*115*75.6322*147*90380*147*90

*Valor teórico calculado en el aire.


Guía de Selección de Productos

Modelo

CP800-840/145C

CP800-840/80C

CP800-840/43C

CP800-840/31C

Ventajas Clave

Ultraalta resolución (0.1 nm)

Tipo de rendimiento equilibrado

Optimizado para gran profundidad

Profundidad de imagen ultraalta (11.7 mm)

Escenarios de Aplicación Sugeridos

Imágenes de piel y córnea que buscan una resolución espacial extrema

Imágenes de tejidos biológicos generales, imágenes in vivo de animales pequeños

Detección de fallas internas en materiales, medición de delaminación industrial

Inspección de muestras de gran tamaño, escaneo de estructuras tisulares profundas


Accesorios Opcionales

Código del Material

Nombre

3.04.07.6011-0

Tarjeta de adquisición