| Модель продукта | DS-201 |
| Геометрия измерения* | D/8, SCI |
| Повторяемость измерения** | ΔE*ab ≤ 0.03 |
| Точность отображения | 0.01 |
| Диаметр измерения | Φ1mm |
| Измеряемые параметры | Спектральная отражательная способность, CIE-Lab, CIE-LCh, HunterLab, CIE-Luv, XYZ, Yxy, RGB, Разность цветов (ΔE*ab, ΔE*cmc, ΔE*94, ΔE*00); Белизна (ASTM E313-00, ASTM E313-73, CIE, ISO2470/R457, AATCC, HunterLab, Taube Berger Stensby); Желтизна (ASTM D1925, ASTM E313-00, ASTM E313-73); Чернота (My dM); Сила окрашивания, Оттенок Tint (ASTM E313-00); Насыщенность цвета CMYK(A,T,E,M); Индекс метамерии Milm; Сила укрывистости, Прочность окраски, Красящая способность |
| Условия освещения | A,B,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12,CWF,U30,U35,DLF,NBF,TL83,TL84,ID50,ID65,LED-B1,LED-B2,LED-B3,LED-B4,LED-B5,LED-BH1,LED-RGB1,LED-V1,LED-V2 |
| Источник освещения | Полносспектральный сбалансированный светодиодный источник |
| Калибровка | Интеллектуальная автоматическая калибровка |
| Поддержка ПО | Android, iOS, Windows, Мини-программа WeChat |
| Угол обзора | 2°, 10° |
| Диаметр апертуры | 20mm |
| Стандарты соответствия | CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 |
| Метод спектроскопии | Нано-интегральная сфера |
| Датчик | Массив кремниевых фотодиодов, двойной 16-канальный |
| Шаг сканирования | 10nm |
| Диапазон сканирования | 400~700nm |
| Диапазон измерения отражательной способности | 0~200% |
| Разрешение отражательной способности | 0.01% |
| Метод измерения | Однократное измерение, среднее измерение (2~99 раз) |
| Время измерения | Ок. 1 секунда |
| Интерфейс | USB, Bluetooth |
| Экран | Полноцветный экран, 2.4 дюйма |
| Емкость батареи | До 8000 непрерывных измерений на одном заряде, 3.7V/3000mAh |
| Срок службы источника | 10 лет / 3 млн измерений |
| Язык | Упрощенный китайский, английский |
| Емкость памяти | Устройство: до 10 000 сохранений; Приложение: неограниченное хранение |
Перевод сноски
* Рассеянное освещение / Направленный прием света 8°, поддержка режимов зеркального отражения(SCI) / исключения зеркального отражения (SCE)
** Стандартное отклонение при 30 измерениях доски с интервалом в 5 секундпосле завершения калибровки доски